强激光与粒子束

作者：王东明, 尤文豪, 杨高照, 张成俊, 贾清刚, 黄展常, 陈进川, 叶繁, 章法强, 游海波,

关键词：辐射成像, 图像退化, 低频模糊, 点扩散函数, 闪烁屏,

辐射成像技术作为一种重要的诊断手段，被广泛应用于惯性约束聚变、闪光照相等各类科学装置上。实践中发现，成像系统点扩散函数通常存在预期之外的低频成分，导致图像出现低频模糊退化、图像灰度分布与射线注量分布之间呈现复杂的非线性关系，进而干扰源区强度分布或客体密度分布等关键物理量的诊断分析。由于点扩散函数低频成分强度极低，实验测量难度较大，其具体来源及份额目前尚未明确。针对这一难题，提出了基于环孔法的点扩散函数低频成分测量方法，首次获得了辐射成像系统点扩散函数低频成分的直接测量结果，将测量下限扩展至点扩散函数峰下10−6量级。同时，发现了闪烁屏表面状态对低频成分存在显著影响；将闪烁屏的非成像面涂覆黑色吸光材料后，可大幅降低闪烁屏导致的低频模糊。

来源：2025年第10期

《强激光与粒子束》期刊编辑部

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