国内刊号:51-1311/O4
国际刊号:1001-4322
发布日期:
作者:许世萍, 崔江维, 郑齐文, 刘刚, 邢康伟, 李小龙, 施炜雷, 王信, 李豫东, 郭旗,
关键词:BCD工艺, 栅极驱动器, 总剂量效应, 环栅加固器件,
针对一款BCD工艺栅极驱动器,采用环栅结构进行总剂量效应加固。通过60Co γ辐照试验,对比了加固和非加固器件电学参数随剂量变化情况。结果表明,总剂量辐射会导致器件的输出电压与电流特性发生退化,出现转换电压下降与输出电流上升的现象,同时发现总剂量辐射对输出电阻几乎无影响。对比两种栅极驱动器辐照前后的测试结果,证明环栅加固方法对抑制总剂量辐射引起的边缘漏电有一定的效果,但辐照总剂量达到500 krad(Si)时,加固器件发生功能失效。通过仿真模拟各级晶体管辐射损伤对器件最终输出结果的影响,确定初级施密特反相器内阈值电压漂移影响转换电压,而末级晶体管阈值电压漂移导致输出高电平下降。
来源:2025年第5期
《强激光与粒子束》期刊编辑部