国内刊号:51-1311/O4
国际刊号:1001-4322
发布日期:
作者:马久欣, 马剑豪, 任吕衡, 余亮, 姚陈果, 董守龙,
关键词:脉冲功率开关, SiC-MOSFET, 开关封装结构, 双脉冲测试, 开关动态性能,
作为脉冲系统的核心部件,开关承担着脉冲成形、功率调制等重要作用,开关通断速度往往决定脉冲上升时间,高速开关是纳秒短脉冲形成的关键。提出一种高速SiC-MOSFET叠层封装结构,整体布局无引线、无外接,具有极低寄生电感。开展了电磁场仿真研究,揭示了脉冲形成过程中封装多介质界面电磁场分布规律,明确了封装结构电磁薄弱环节,为进一步绝缘优化提供指导。搭建双脉冲测试平台,对研制的SiC-MOSFET叠层封装开关与同芯片商用TO-263-7封装开关的动态性能进行测试。结果表明,大电流工况下,所提封装电流开通速度提升48%,关断速度提升50%,开通损耗降低54.6%,关断损耗降低62.8%,实验结果验证了所提叠层封装结构对开关动态性能的改善。
来源:2024年第2期
《强激光与粒子束》期刊编辑部