国内刊号:51-1311/O4
国际刊号:1001-4322
发布日期:
作者:邱瑞阳, 黄蔚玲, 曾磊, 徐智虹, 李芳, 孟鸣, 杨涛, 王安鑫, 刘孟宇, 孙纪磊, 徐韬光,
关键词:CSNS, H<sup>0</sup>CT, 脉冲流强测量, μA级,
中国散裂中子源的强流质子加速器采用剥离注入的方式,碳膜将H−剥离两个电子后变成质子,多圈涂抹注入到快循环同步环加速中,并加速至1.6 GeV。为了精确测量剥离膜的剥离效率并研究不同厚度剥离膜的使用寿命,在I-Dump束线上新研发并安装了一套束流流强探测器(H0CT),用于测量未完全剥离的H−和H0(H−被剥离一个电子)粒子。为了测量μA级束流,H0CT弱流强测量系统的研制考虑了外部干扰,配合探头、线缆及电子学低噪声的抗干扰设计,将环境噪声及干扰的影响降至最低,提高信噪比,实现了μA级脉冲电流的测量。
来源:2023年第2期
《强激光与粒子束》期刊编辑部