强激光与粒子束

作者：张海明, 张义, 贾晓, 王凯, 陶兆增, 沈世钊, 王海玉,

关键词：交联乙烯-四氟乙烯线缆, 真空紫外辐照, 极限耐电压, 绝缘电阻, 微观结构,

以航天器舱外用交联乙烯-四氟乙烯共聚物(X-ETFE)线缆为试验对象，采用5倍加速因子对X-ETFE线缆累计进行了8000等效太阳小时(ESH)真空紫外(VUV)辐照，并通过极限耐电压、绝缘材料电阻测试分析X-ETFE线缆电性能，采用FTIR和SEM表征X-ETFE材料分子结构和微观形貌，以此研究不同VUV辐照时间对X-ETFE线缆的影响。试验结果表明，随着VUV辐照时间的增加，材料表面累积了碳而发生暗化，线缆外观颜色逐渐变为深棕色；X-ETFE线缆的极限耐压和绝缘电阻呈总体下降趋势，但整体电性能水平未发生本质变化； X-ETFE材料在1628 cm−1处的吸收峰逐步增大，说明X-ETFE材料分子链中的−C=C−自由基团随辐照时间而增多，致使材料表面出现了微裂纹现象。

来源：2022年第11期

《强激光与粒子束》期刊编辑部

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