强激光与粒子束

作者：张琦, 王传伟, 李洪涛,

关键词：SiPM, STM32, 自动增益校正, LM2576-ADJ, DS18B20,

温度会使硅光电倍增管的增益产生较大的漂移，进而影响硅光电倍增管的增益精度。为了使硅光电倍增管增益不随温度发生较大变化，设计了硅光电倍增管的自动增益校正系统，包括基于单片机的高压电源设计与采集系统设计。高电压模块精确工作的温度范围为−10～60 ℃，电源噪声约为30 mV，满足硅光电倍增管性能测试的需求。采集系统经过扫频测试与激光照射测试，可以较好地通过60 MHz的交流信号，并将光信号转变为较明显的电信号。该系统可以向京邦公司的硅光电倍增管阵列JARY-TP3050-8X8C提供工作电压与采集电路。

来源：2022年第7期

《强激光与粒子束》期刊编辑部

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